表面張力・界面張力測定機器一覧
Surface & Interface Tensiometer
静的表面張力計
Staic Surface Tensiometer
Kyowa CBVP-Z
Krüss K100
動的表面張力計
Dinamic Surface Tensiometer
Kyowa BP-D5
Kruss K11
ペンダントドロップ型表面張力・接触角計
Pendant Drop type of Surface Tention & Contact Angle meter
Kyowa Dropmaster 700
スピニングドロップ型表面張力系
Spining Drop type of Surface Tensiometer
Krüss SDT
界面粘度計
Automatic Surface Viscosity Meter
Kyowa SVR-A
界面粘弾性計
Surface Viscoelasticity meter
Teclis Tracker
LB膜制作装置(表面圧測定装置)
LB Trough (Surface Pressure – Area Isotherm Equipment)
Kyowa HBM-A
ゼータ電位・粒子径測定機器一覧
Zeta Potential & Particle Size Analyzer
ゼータ電位・動的光散乱測定装置
Zeta-Potential & Dynamic Light Scattering Analyzer
Nicomp380 ZLS
Anton Paar Litesizer TM500
静的光散乱測定装置
Static Light Scattering Analyzer
Wyatt DAWN EOS
高感度示差屈折計
Differential Refractometer
Otsuka DRM-3000
界面物性評価装置一覧
Analytical Instruments for Interfacial Properties
小角X線散乱測定装置
Small-Angle X-Ray Scattering
Anton Paar SAXSess
Xenocs Xeuss 3.0
水晶振動子マイクロバランス
Quartz Crystal Microbalance with Dissipation Monitoring
Biolin Scientific Q-Sense Explorer
タービスキャン
Turbiscan
Formulaction MA2000
レオメーター
Rheometer
TA-AR
Anton Paar MCR-302
乳化装置
Emulsification Instruments
プロペラ撹拌式乳化試験機
Emulsification Mixer
Nikkol ET-3A
クリアミックス
Clearmix
M-Technique CLM-0.8S
顕微鏡
Microscope
透過型電子顕微鏡
(低温ユニット・凍結割断ユニット装備)
Transmission Electron Microscope (Cryo-TEM & FF-TEM)
Hitachi H-7650
原子間力顕微鏡
Atomic Force Microscope
SII SPI4000
SII SPI3800
走査型電子顕微鏡
Scanning Electron Microscope
Hitachi S-3400
倒立型光学顕微鏡・偏光顕微鏡
Optical Microscope & Polarized Optical Microscope
Olympus IMT-2
汎用機器一覧
Analytical Instruments
示差走査熱量計
Differential Scanning Calorimeter
Rigaku DSC8230
熱重量・示差熱分析装置
Thermo-Gravimetry and Differential Thermal Analyzer
Shimadzu DTG-60A
紫外可視吸収スペクトロメーター
UV-Vis Absorption Spectrometer
Agilent 8453E
フーリエ変換型赤外吸収スペクトロメーター
IR Spectrometer
JASCO FT-IR 6100
全有機炭素測定装置
Total organic Carbon Analyzer
Shimadzu TOC-VCPH
カールフィッシャー水分計
Karl Fischer Moisture Titrator
KEM MKC-610
